SB100A型磁性薄膜磁電阻率測量儀產品詳細說明：

SB100A型磁性薄膜磁電阻率測量儀由乾峰乾司與北京科技大學應用科學學院物理系和北京科大天宇微電子材料技術開發(fā)有限公司合作開發(fā)，可用于高校物理教育實驗及對磁電阻薄膜的磁電阻和導體/半導體/金屬薄膜材料的電阻及電阻率的測試及研究。

SB100A為原SB100的改進型。

SB100A由磁場電源SB119型穩(wěn)壓電源，SB118型精密直流電壓電流源，PZ158A型直流數(shù)字電壓表以及SB120四探針線圈樣品平臺四部分組成。

磁場電源：SB119型直流穩(wěn)壓電源能產生0-60V連續(xù)可調電壓，最大額定電流為5A輸出，詳見本公司產品SB119。
SB118型電壓電流源：是一臺4½位的電壓源及電流源，既可輸出5µV-50V，5檔可調電壓，基本誤差為±（0.1%RD+0.02%FS）又可輸出1nA-100mA，5檔可調電流，基本誤差為±（0.03%RD+0.02%FS）詳見本公司產品SB118。
PZ158A直流數(shù)字電壓表：其為1臺6½位的最高分辨力可達0.1µV，可測量0-1000V直流電流的精密儀表。基本量程的基本誤差為±（0.002%RD+0.0005%FS），詳見本公司產品PZ158A。
SB120線圈樣品平臺：其由底盤，可旋轉360º的襯盤，在底盤上的樣品小平臺以及在樣品小平臺上安置的四探針組成。詳見本公司產品樣品平臺。SB120/1線圈樣品平臺即亥姆霍茲磁場線圈平臺，其由2只相同類型的線圈分別固定在樣品平臺的襯盤兩側。該線圈可以圍繞樣品小平臺作360º轉動，在線圈通電0—60V/5A的情況下，可確保產生磁場0-150奧斯特。